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法國(guó)LAMTECH用于精加工表面的目視檢查干涉儀 SPI 75
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產(chǎn)品屬性：SPI 視覺檢測(cè)儀器允許對(duì)研磨、研磨或拋光表面進(jìn)行平面度檢查。平面度測(cè)量?jī)x一樣，SPI干涉儀也是基于光的掠入射原理法國(guó)LAMTECH干涉儀 SPI 75。因此，對(duì)于無(wú)光澤的測(cè)試對(duì)象，SPI 干涉條紋是可見的。在使用 SPI 檢查之前，不必對(duì)零件進(jìn)行拋光。SPI 可提供 75 和 130 毫米的測(cè)量范圍。此外，我們還提供具有增強(qiáng)靈敏度的 SPI-xs。靈敏度設(shè)置為 0.3 m/條紋，這對(duì)應(yīng)于使用光學(xué)平面和氦燈或鈉燈進(jìn)行測(cè)量的靈敏度法國(guó)LAMTECH干涉儀 SPI 75。
主要產(chǎn)品：激光平面度測(cè)量?jī)xSP，I目視檢查干涉儀法國(guó)LAMTECH干涉儀 SPI 75
產(chǎn)品應(yīng)用： SPI干涉儀用于零件的視覺平面度檢查 Lamtech Lasermesstechnik 提供干涉儀，用于對(duì)精加工零件進(jìn)行視覺平面度檢查。 為了評(píng)估測(cè)試對(duì)象，將零件放置在 SPI 的玻璃表面上。部分和邊緣比在放大呈現(xiàn)。平面度的評(píng)估是基于對(duì)顯示的干涉條紋的直線度、平行度和等距的解釋進(jìn)行的。 干涉儀適合放置在靠近加工機(jī)器的生產(chǎn)區(qū)域。 法國(guó)LAMTECH干涉儀 SPI 75程序 INTDOK (更多) 或打印機(jī)可以記錄零件的平整度。 目視檢查干涉儀 SPI – 用于精加工表面的目視平面度檢查 配飾提供可選的靈敏度標(biāo)準(zhǔn)，用于常規(guī)控制 SPI 視覺檢查干涉儀的正確靈敏度設(shè)法國(guó)LAMTECH干涉儀 SPI 75
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